電路板為何焊錫后的清洗潔凈度驗(yàn)證是必要的?
電路板為何焊錫后的清洗潔凈度驗(yàn)證是必要的?
不論助焊劑的性能高低都或多或少會(huì)有腐蝕性,電路板焊錫后的殘?jiān)埩粑飼?huì)導(dǎo)致腐蝕、漏電、離子遷移等不同問(wèn)題。因此去除助焊劑的殘?jiān)?dāng)然會(huì)被業(yè)者視為重要的處理工作。而究竟處理的效果為何?這方面也需要有適當(dāng)?shù)姆椒▉?lái)進(jìn)行驗(yàn)證與追蹤。pcb線路板打樣電路板焊錫后的清洗效果,應(yīng)該以焊點(diǎn)殘留離子殘?jiān)繛榛鶞?zhǔn)。MIL所采用的規(guī)范是MIL-P-28809,55110,測(cè)試中應(yīng)該要具有6MQ-cm以上的電阻率。被測(cè)定金屬的單位面積、定量清洗后計(jì)算電阻率,以潔凈度來(lái)看電阻應(yīng)該要保持在2MQ-cm以上。
代表性的潔凈度測(cè)試法有Ion ogurafu和omega Meter,在MIL規(guī)范中被認(rèn)定為量測(cè)潔凈度的簡(jiǎn)便法。任何一種方法的原理,都是經(jīng)過(guò)清洗處理后的焊點(diǎn)上殘存離子性污垢,透過(guò)溶媒抽出來(lái)測(cè)定其導(dǎo)電度變化作為指標(biāo)。
Ion ogufafu法的潔凈度測(cè)定法,是將被測(cè)定金屬浸漬在高電阻率的溶液(lsoburobiru arukoru75%蒸餾水25%)中,污染物中的離子性物質(zhì)被抽出后透過(guò)溶液導(dǎo)電率變化來(lái)求出潔凈度。潔凈度的指標(biāo)以所求出的氯化鈉當(dāng)量為準(zhǔn),這表示離子的污染度(ug NaCI/Cm2)。此方法若殘?jiān)鼰o(wú)法溶解于lsoburobiru arukoru,就無(wú)法測(cè)定出污染的程度。